PAシリーズ　高密度実装基板用等

SERIES

特長

わずか数秒程度の簡単なリフト＆ドロップ操作で、測定対象への非常に安定したプロービングが可能です。

付属している専用ルーペをセットすることで常にプローブ先端付近を拡大することができ、微細な測定対象へのプロービングを可能にします。

専用に設計された細軸の硬質金メッキプローブを介しての信号取り込みになります。オシロスコープやテスターのプローブよりも細軸（Φ0.6）であるため、微小な部品へのプロービングが可能です。

※針先のプローブは御要望により市販のテスター用プローブや半導体用プローブ等に変更することが可能です。
詳細につきましては御問合せ下さい。

付属ルーペのフォーカスを針先に合わせることで、より精密な作業が可能となります。

リード線の半田付けやICクリップでは不可能に近い、挟ピッチICの連続したピンからの信号取り出しも可能となります。

型式	L(mm)※1	H(mm)	アーム構成
PA-400	400	175	広範囲
PA-320	320	158	中型
PA-270	270	145	小型
PA-320W	320(270)	158	2アーム※2
PA-400W	400(320)	175	2アーム※2

※1 アーム長(L)はアームを最大限伸ばした時のベース中央からの長さです。
測定可能な範囲はPA-400の場合、約半径400m以内となります。

※2 2アームタイプには2本のアームがセットされています。
2本のアームは、操作性を考慮して長さの異なるアームが2本セットされています。
例えば、PA-400Wの場合にはＬ=400及びL=320がセットされています。
これにより各々のアームは干渉することなく、独立した操作が可能です。

PA-270

PA-400W

PAシリーズの納期は全機種、通常1週間となります。